Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Программно-аппаратные решения повышения сбоеустойчивости комбинационных схем в базисе ПЛИС с учётом межсоединений и блоков ввода-вывода  

Авторы
 Рухлов В.С.
 Соловьев Р.А.
 Кустов А.Г.
Год публикации
 2020
DOI
 10.31114/2078-7707-2020-1-113-118
УДК
 004.052.2

Аннотация
 В статье предложены программно-аппаратные решения повышения сбоеустойчивости комбинационных схем в базисе программируемых логических интегральных схем (ПЛИС) с учётом межсоединений и блоков ввода-вывода, что может быть использовано также и для программируемых пользователем вентильных матриц (ППВМ). Для этого реализовано программное решение, выполняющее поиск критических логических элементов, ошибка в которых наиболее вероятно повлияет на выходы проекта в базисе ПЛИС. Метод вычисления коэффициента чувствительности комбинационной схемы в базисе ПЛИС адаптирован для элементов активированных в проекте локальных и глобальных шин, а также прочих используемых элементов. Описан метод оценки сбоеустойчивости комбинационных схем в базисе ПЛИС.
Предложены варианты минимизации встроенной избыточности сбоеустойчивых элементов ПЛИС.
Проведена экспериментальная работа, по формированию сбоеустойчивых проектов комбинационных схем в базисе сбоеустойчивых ПЛИС.
Ключевые слова
 комбинационная логика, ПЛИС, программируемые логические интегральные схемы, LUT, логический синтез, повышение сбоеустойчивости, система автоматизации проектирования (САПР), инжектирование ошибок, кратковременные единичные сбои, межсоединения ПЛИС, блоки ввода-вывода, локальные шины ПЛИС, глобальные шины ПЛИС.
Ссылка на статью
 Рухлов В.С., Соловьев Р.А., Кустов А.Г. Программно-аппаратные решения повышения сбоеустойчивости комбинационных схем в базисе ПЛИС с учётом межсоединений и блоков ввода-вывода // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2020. Выпуск 1. С. 113-118. doi:10.31114/2078-7707-2020-1-113-118
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2020/pdf/D054.pdf

Copyright © 2009-2024 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН