| Поиск рациональной структуры тестового генератора для подсистем встроенного самотестирования цифровых схем |
|
 |
|
|
| Авторы |
| | Быханова Н.В. |
| | Мосин С.Г. |
| Год публикации |
| | 2020 |
| DOI |
| | 10.31114/2078-7707-2020-1-89-94 |
| УДК |
| | 004.4 |
|
| Аннотация |
| | В данной статье предложен способ поиска рациональной структуры тестового генератора, входящего в состав подсистем встроенного самотестирования цифровых схем. Решение направлено на минимизацию аппаратных и временных затрат и автоматизацию процесса формирования тестового генератора. В его основе лежит поиск баланса между двумя способами тестирования: псевдослучайным и детерминированным. Представлены результаты экспериментальных исследований. |
| Ключевые слова |
| | встроенное самотестирование, тестовый генератор, LFSR, покрытие неисправностей. |
| Ссылка на статью |
| | Быханова Н.В., Мосин С.Г. Поиск рациональной структуры тестового генератора для подсистем встроенного самотестирования цифровых схем // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2020. Выпуск 1. С. 89-94. doi:10.31114/2078-7707-2020-1-89-94 |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2020/pdf/D045.pdf |
