Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Использование SAT решателей и ROBDD-графов для построения схем, маскирующих логические неисправности и вредоносные подсхемы  

Авторы
 Матросова А.Ю.
 Провкин В.А.
 Останин С.А.
Год публикации
 2020
DOI
 10.31114/2078-7707-2020-2-35-42
УДК
 004.312

Аннотация
 В комбинационной схеме С из вентилей выделена подсхема с множеством V выходных полюсов и множеством U входных полюсов. Множество V состоит из выходных полюсов неисправных элементов схемы (рассматриваются логические неисправности) и входных полюсов исправных элементов, таких, что полюс является выходом линии, в которую включена вредоносная подсхема. Конкретный выбор множества U зависит от технической реализации схемы C, и здесь не обсуждается. (В частности, множество U может являться подмножеством входов схемы C). Предлагается корректировать поведение схемы С, используя маскирующую схему, желательно более простую, чем заданная подсхема, в рамках Engineering Change Order (ECO) технологий. Известные подходы к построению маскирующей схемы основаны на результатах моделирования поведения корректируемой схемы С на подмножестве входных наборов. Этот подход гарантирует корректное поведение схемы на подмножестве моделируемых наборов. Мы предлагаем при построении маскирующей схемы использовать частичные функции полюсов множества V, что позволяет гарантировать корректное поведение схемы С на множестве всех ее входных наборов. Построение частичных функций выполняется либо с использованием SAT решателей, либо с использованием операций над ROBDD-графами, либо с совместным применением обеих технологий. Далее полученные частичные функции, зависящие от входных переменных схемы С, отображаются на множество U внутренних переменных, применяя эти же технологии, если множество U не является подмножеством входов схемы С. По системе частичных функций с помощью систем ESPRESSO и ABC строится маскирующая схема.
Ключевые слова
 комбинационные схемы, частичные функции, функции наблюдаемости внутренних полюсов, КНФ Цейтина, ортогональные ДНФ (ОДНФ), ROBDD-графы, SAT решатели, ECO технологии.
Ссылка на статью
 Матросова А.Ю., Провкин В.А., Останин С.А. Использование SAT решателей и ROBDD-графов для построения схем, маскирующих логические неисправности и вредоносные подсхемы // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2020. Выпуск 2. С. 35-42. doi:10.31114/2078-7707-2020-2-35-42
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2020/pdf/D022.pdf

Copyright © 2009-2024 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН