| Принципы проектирования отказоустойчивых оперативных запоминающих устройств для космического применения |
|
 |
|
|
| Авторы |
| | Волобуев С.В. |
| | Евдокимов А.П. |
| | Рябцев В.Г. |
| Год публикации |
| | 2020 |
| DOI |
| | 10.31114/2078-7707-2020-2-103-109 |
| УДК |
| | 004.318 |
|
| Аннотация |
| | Предлагается архитектура отказоустойчивого оперативного запоминающего устройства, содержащего три канала модулей памяти со встроенными средствами самотестирования и саморемонта. Первый модуль обрабатывает данные устройства управления, второй модуль работает в режиме зеркального отображения данных, третий модуль работает в режиме самотестирования. Если отказал первый модуль памяти, то происходит подключение второго работоспособного модуля памяти. Третий модуль переключается в режим зеркального отображения данных, а первый модуль переходит в режим самотестирования и автоматического саморемонта. Такое взаимодействие модулей памяти каналов многократно повышает надежность систем управления космической техникой. |
| Ключевые слова |
| | зеркаливание памяти, многократные отказы, резервирование, средства самотестирования и саморемонта. |
| Ссылка на статью |
| | Волобуев С.В., Евдокимов А.П., Рябцев В.Г. Принципы проектирования отказоустойчивых оперативных запоминающих устройств для космического применения // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2020. Выпуск 2. С. 103-109. doi:10.31114/2078-7707-2020-2-103-109 |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2020/pdf/D003.pdf |
