Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Сравнительный анализ двухзатворных беспереходного и традиционного МОП-транзисторов средствами TCAD  

Авторы
 Чаплыгин Ю.А.
 Крупкина Т.Ю.
 Королев М.А.
 Красюков А.Ю.
 Артамонова Е.А.
Год публикации
 2018
DOI
 10.31114/2078-7707-2018-3-87-92
УДК
 621.3.049.771

Аннотация
 Проведен сравнительный анализ электрических характеристик двухзатворных беспереходного и традиционного МОП-транзистора с проектными нормами 90 нм. Отмечены недостатки беспереходного транзистора, обусловленные высоким уровнем легирования его канала. С использованием средств TCAD показано, что при умеренном уровне легирования канала беспереходного транзистора, прибор имеет существенно меньшие токи утечки и подпороговый наклон по сравнению с обычным двухзатворным инверсионным МОП-транзистором при сопоставимых значениях порогового напряжения и тока насыщения.
Ключевые слова
 двухзатворный беспереходной МОП-транзистор, моделирование, TCAD, электрические характеристики.
Ссылка на статью
 Чаплыгин Ю.А., Крупкина Т.Ю., Королев М.А., Красюков А.Ю., Артамонова Е.А. Сравнительный анализ двухзатворных беспереходного и традиционного МОП-транзисторов средствами TCAD // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем. 2018. Выпуск 3. С. 87-92. doi:10.31114/2078-7707-2018-3-87-92
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2018/pdf/D110.pdf

Copyright © 2009-2024 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН