| Методы верификации на кристалле задержек распространения стандартных цифровых элементов |
|
 |
|
|
| Авторы |
| | Кобыляцкий А.В. |
| | Сергеев Д.К. |
| Год публикации |
| | 2018 |
| DOI |
| | 10.31114/2078-7707-2018-2-72-78 |
| УДК |
| | 621.382 |
|
| Аннотация |
| | В статье представлен сравнительный анализ методов измерения временных интервалов на кристалле, которые могут быть применены для верификации задержек распространения стандартных цифровых элементов. Сравнение производится по сложности реализации, точности определения задержек, занимаемой площади и т.д. Один из рассмотренных методов использован авторами на тестовом кристалле. На основе проведенного моделирования дана оценка точности определения задержек при измерении с использованием разработанной схемы. |
| Ключевые слова |
| | СБИС, система-на-кристалле, стандартный цифровой элемент, временные параметры, задержка распространения, верификация на кристалле, тестовая структура, характеризация, кольцевой генератор. |
| Ссылка на статью |
| | Кобыляцкий А.В., Сергеев Д.К. Методы верификации на кристалле задержек распространения стандартных цифровых элементов // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем. 2018. Выпуск 2. С. 72-78. doi:10.31114/2078-7707-2018-2-72-78 |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2018/pdf/D077.pdf |
