| Технометрическая идентификация микросхем для контроля жизненного цикла и поиска контрафакта |
|
 |
|
|
| Авторы |
| | Семенов А.В. |
| | Старцев В.Н. |
| | Степанов Е.Н. |
| Год публикации |
| | 2018 |
| DOI |
| | 10.31114/2078-7707-2018-4-143-148 |
| УДК |
| | 621.3.082.74 |
|
| Аннотация |
| | Рассмотрена возможность контроля и идентификации микросхем и других изделий электронной техники. В частности, мы предлагаем идентификацию на основе измерений аналоговых характеристик изделия, рассматриваемого как «черный ящик». Для построение системы использован аппарат биометрии и физически неклонируемых функций. Показано, что измерения s-параметров позволяют идентифицировать микросхему и одновременно решать задачу идентификации и определения подлинных микросхем. |
| Ключевые слова |
| | контрафакт, идентификация интегральных микросхем, физически неклонируемые функции, биометрия. |
| Ссылка на статью |
| | Семенов А.В., Старцев В.Н., Степанов Е.Н. Технометрическая идентификация микросхем для контроля жизненного цикла и поиска контрафакта // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем. 2018. Выпуск 4. С. 143-148. doi:10.31114/2078-7707-2018-4-143-148 |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2018/pdf/D072.pdf |
