| Метод дублирования триггеров в средствах тестирования с компрессией |
|
 |
|
|
| Авторы |
| | Ладнушкин М.С. |
| Год публикации |
| | 2018 |
| DOI |
| | 10.31114/2078-7707-2018-2-64-71 |
| УДК |
| | 681.5 + 621.3.049.771.14 |
|
| Аннотация |
| | Предложен метод сокращения времени тестирования неисправностей цифровой СБИС за счёт дублирования отдельных функциональных триггеров. Сокращение времени тестирования обусловлено увеличением тестируемости сигналов, а также снижением взаимных конфликтов неисправностей в логических путях СБИС. Предложен алгоритм отбора триггеров для дублирования на основе поиска логических путей с наибольшим числом источников сигналов, который был использован при проектировании встроенных средств тестирования ряда заказных блоков и систем-на-кристалле. Результаты показали снижение времени тестирования в среднем на 14,4% при аппаратурных затратах, не превышающих 1,2% общей площади СБИС. |
| Ключевые слова |
| | тестирование, отбраковка микросхем, дублирования триггеров, компрессия тестовых сигналов, моделирование. |
| Ссылка на статью |
| | Ладнушкин М.С. Метод дублирования триггеров в средствах тестирования с компрессией // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем. 2018. Выпуск 2. С. 64-71. doi:10.31114/2078-7707-2018-2-64-71 |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2018/pdf/D064.pdf |
