| Принципы проектирования устройств тестового диагностирования быстродействующих микросхем и модулей полупроводниковой памяти |
|
 |
|
|
| Авторы |
| | Евдокимов А.П. |
| | Рябцев В.Г. |
| | Меликов А.В. |
| Год публикации |
| | 2018 |
| DOI |
| | 10.31114/2078-7707-2018-2-23-30 |
| УДК |
| | 621.317 |
|
| Аннотация |
| | Рассматривается проблема повышения быстродействия устройств тестового диагностирования микросхем и модулей памяти. Предложена структура мультипроцессорного устройства тестового диагностирования, обладающего высоким быстродействием и обеспечивающего одновременное формирование тестовых воздействий для нескольких смежных тактов за один период сигнала синхронизации. |
| Ключевые слова |
| | микросхема памяти, тестовое диагностирование, устройство тестового диагностирования. |
| Ссылка на статью |
| | Евдокимов А.П., Рябцев В.Г., Меликов А.В. Принципы проектирования устройств тестового диагностирования быстродействующих микросхем и модулей полупроводниковой памяти // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем. 2018. Выпуск 2. С. 23-30. doi:10.31114/2078-7707-2018-2-23-30 |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2018/pdf/D004.pdf |
