| Исследование способов повышения эффективности стохастического тестирования моделей микропроцессоров |
|
 |
|
|
| Авторы |
| | Гревцев Н.А. |
| | Хисамбеев И.Ш. |
| | Чибисов П.А. |
| Год публикации |
| | 2016 |
| УДК |
| | 004.052.42 |
|
| Аннотация |
| | В статье описана методика функционального тестирования микропроцессоров, основанная на построении моделей функционального покрытия с при-влечением «тестового знания». Модели покрытия ис-пользуются для измерения, наблюдения и изменения направления процесса стохастического тестирования. Согласно методике вводятся метрики тестового покрытия на уровне инструкций микропроцессора, производится анализ получаемых данных о покрытии и оценивается эффективность стохастических тестов. |
| Ключевые слова |
| | функциональная верификация, RTL-модель микропроцессора, стохастическое тестирование, метрики тестового покрытия, модель покрытия, генерация псевдослучайных тестов. |
| Ссылка на статью |
| | Гревцев Н.А., Хисамбеев И.Ш., Чибисов П.А. Исследование способов повышения эффективности стохастического тестирования моделей микропроцессоров // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2016. № 2. С. 8-15. |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2016/pdf/D128.pdf |
