Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Оценка надежности при одиночных сбоях в кэш-памяти в маршруте проектирования системы на кристалле  

Авторы
 Мамутова О.В.
Год публикации
 2016
УДК
 004.337

Аннотация
 Для современных систем на кристалле в бортовых приборах космических аппаратов особенно остро стоит проблема одиночных сбоев в элементах памяти. Поэтому в ходе проектирования для обоснованного принятия решений возникает необходимость оценки уязвимости системы к подобным сбоям, которые являются основной причиной информационных отказов. Для платформенно-ориентированного проектирования необходимые средства анализа чувствительности вычислительной системы к одиночным сбоям включают в себя средства быстрой оценки на этапе системного проектирования и средства внесения неисправностей с помощью программируемых логических интегральных схем (ПЛИС). В работе рассмотрена проблема анализа одиночных сбоев самого уязвимого узла системы на кристалле – кэш-памяти процессора. Сформулированы недостатки существующих подходов для платформенно-ориентированного проектирования, и предложены новые методы оценки уязвимости процессора с кэш-памятью к одиночным сбоям, позволяющие сократить время анализа надежности системы. Сформулирована методика оценки надежности системы для интеграции этих средств в маршрут проектирования системы на кристалле. Представлен пример разработки бортового вычислителя малого спутника, демонстрирующий применение предложенных средств оценки.
Ключевые слова
 система на кристалле, платформа, кэш-память, надежность, одиночный сбой, информационный отказ, моделирование, внесение неисправностей.
Ссылка на статью
 Мамутова О.В. Оценка надежности при одиночных сбоях в кэш-памяти в маршруте проектирования системы на кристалле // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2016. № 4. С. 166-171.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2016/pdf/D073.pdf

Copyright © 2009-2024 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН