| Выявление контрафакта внутри однородной партии микросхем при измерении s-параметров |
|
 |
|
|
| Авторы |
| | Семенов А.В. |
| | Федорец В.Н. |
| Год публикации |
| | 2014 |
| УДК |
| | 621.3.082.74 |
|
| Аннотация |
| | Задача подтверждения однородности микросхем важна для выявления бракованных и контрафактных изделий в партии. В данной работе сделана попытка упрощения анализа микросхем за счет использования их s-параметров для оценки однородности партии. Это особенно актуально в связи с быстро возрастающим количеством контрафактной продукции. |
| Ключевые слова |
| | контрафакт, NBTI, HCI, s-параметры |
| Ссылка на статью |
| | Семенов А.В., Федорец В.Н. Выявление контрафакта внутри однородной партии микросхем при измерении s-параметров // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2014. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2014. Часть 3. С. 21-24. |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2014/pdf/D139.pdf |
