| Структурное решение тестового генератора для подсистем встроенного самотестирования цифровых схем |
|
 |
|
|
| Авторы |
| | Быханова Н.В. |
| | Мосин С.Г. |
| Год публикации |
| | 2014 |
| УДК |
| | 004.4 |
|
| Аннотация |
| | В данной статье предложено структурное решение для тестового генератора, входящего в состав подсистем встроенного самотестирования цифровых схем. Решение направлено на минимизацию аппаратных затрат и автоматизацию процесса формирования тестового генератора. Его идея заключается в использовании одного генератора тестов для двух способов тестирования: псевдослучайного и детерминированного. Представлены результаты экспериментальных исследований. |
| Ключевые слова |
| | встроенное самотестирование, тестовый генератор, LFSR, покрытие неисправностей |
| Ссылка на статью |
| | Быханова Н.В., Мосин С.Г. Структурное решение тестового генератора для подсистем встроенного самотестирования цифровых схем // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2014. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2014. Часть 4. С. 95-100. |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2014/pdf/D076.pdf |
