Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Исследование стойкости к воздействию отдельных ядерных частиц ячеек КНИ КМОП ОЗУ методами смешанного 3D TCAD-SPICE моделирования
Авторы
	Петросянц К.О.
	Харитонов И.А.
	Орехов Е.В.
	Самбурский Л.М.
	Ятманов А.П.
	Воеводин А.В.
Год публикации
	2012
УДК
	УДК 621.382.32
Аннотация
	В статье приведены результаты смешанного 3D приборно-схемотехнического моделирования воздействия ОЯЧ на различные области КНИ МОП транзисторов в составе ячейки памяти при масштабировании транзисторов от 0,5 до 0,1 мкм. Показано, что на устойчивость ячейки памяти к воздействию ОЯЧ существенно влияет не только величина критического заряда, но и место попадания частицы, и форма возникающего при этом импульса тока.
Ключевые слова
	ячейки ОЗУ, КНИ КМОП, ОЯЧ, TCAD-SPICE моделирование, масштабирование
Ссылка на статью
	Петросянц К.О., Харитонов И.А., Орехов Е.В., Самбурский Л.М., Ятманов А.П., Воеводин А.В. Исследование стойкости к воздействию отдельных ядерных частиц ячеек КНИ КМОП ОЗУ методами смешанного 3D TCAD-SPICE моделирования // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2012. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2012. С. 413-418.
Адрес статьи
	http://www.mes-conference.ru/data/year2012/pdf/D173.pdf