| Автономная верификация микропроцессоров на основе эталонных моделей разного уровня абстракции |
|
 |
|
|
| Авторы |
| | Шмелёв В.А. |
| | Стотланд И.А. |
| Год публикации |
| | 2012 |
| УДК |
| | 004.052.42 |
|
| Аннотация |
| | В статье рассмотрены особенности автономной верификации микропроцессоров. Предложена классификация модулей микропроцессоров с точки зрения их функциональной верификации. Обозначены два основных подхода к автономной верификации в зависимости от принадлежности верифицируемого модуля к одному из подклассов. Предложены и обоснованы архитектуры тестовых систем на основе потактовых и функциональных эталонных моделей. Описан опыт практического применения предлагаемой методики. |
| Ключевые слова |
| | автономная верификация, тестовая система, эталонная модель, конвейер, микропроцессор, OVM, TLM. |
| Ссылка на статью |
| | Шмелёв В.А., Стотланд И.А. Автономная верификация микропроцессоров на основе эталонных моделей разного уровня абстракции // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2012. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2012. С. 435-440. |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2012/pdf/D137.pdf |
