| Модели и методы диагностирования цифровых систем на кристаллах |
|
 |
|
|
| Авторы |
| | Хаханов В.И. |
| | Литвинова Е. |
| | Гузь О. |
| | Чумаченко С. |
| Год публикации |
| | 2012 |
| УДК |
| | 658.512.011:681.326:519.713 |
|
| Аннотация |
| | Предлагается инфраструктура верификации и сервисного обслуживания цифровых систем на кристаллах на основе параллельного анализа табличных или матричных структур данных в векторном логическом пространстве при использовании мультипроцессорных архитектур. Рассматриваются модели и методы верификации, встроенного диагностирования и восстановления работоспособности компонентов цифровых систем, где качество решения оценивается неарифметической метрикой взаимодействия булевых векторов. |
| Ключевые слова |
| | Мультипроцессор, векторно-логический анализ, критерий качества, верификация, диагностирование цифровых компонентов, процесс-модель поиска дефектов |
| Ссылка на статью |
| | Хаханов В.И., Литвинова Е., Гузь О., Чумаченко С. Модели и методы диагностирования цифровых систем на кристаллах // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2012. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2012. С. 22-29. |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2012/pdf/D134.pdf |
