| Метод снижения температурной зависимости временных задержек цифровых интегральных схем |
|
 |
|
|
| Авторы |
| | Меликян В.Ш. |
| | Бабаян Э.Г. |
| | Арутюнян А.Г. |
| | Меликян Н.В. |
| | Заргарян Г.Е. |
| Год публикации |
| | 2012 |
| УДК |
| | 621.3.049.771 |
|
| Аннотация |
| | Исследованы явления обратной температурной зависимости временных задержек компонентов и целостных интегральных схем, изготовленных по технологиям 90 нм и ниже. Приведены экспериментальные расчеты оптимальных величин напряжений питания для отдельных стандартных цифровых ячеек. Предложен метод снижения влияния температурных флуктуаций на быстродействие интегральной схемы путем повышения напряжения питания и незначительного увеличения потребляемой мощности. Представлено экспериментальное обоснование определения оптимального значения напряжения питания интегральной схемы. |
| Ключевые слова |
| | температура, цифровая интегральная схема, пороговое напряжение, быстродействие |
| Ссылка на статью |
| | Меликян В.Ш., Бабаян Э.Г., Арутюнян А.Г., Меликян Н.В., Заргарян Г.Е. Метод снижения температурной зависимости временных задержек цифровых интегральных схем // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2012. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2012. С. 409-412. |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2012/pdf/D87.pdf |
