| Методы обеспечения стойкости микросхем к одиночным событиям при проектировании радиационно-стойких микросхем |
|
 |
|
|
| Авторы |
| | Ачкасов В.Н. |
| | Смерек В.А. |
| | Уткин Д.М. |
| | Зольников В.К. |
| Год публикации |
| | 2012 |
| УДК |
| | 004.942 |
|
| Аннотация |
| | Рассмотрено влияние одиночных сбоев на работу цифровых устройств. Показана реализация методов защиты от одиночных сбоев на примере микросхем К1830ВЕ32УМ и 1830ВЕ32У. |
| Ключевые слова |
| | Интегральная схема; одиночные сбои; структурная избыточность; временная избыточность; программная избыточность. |
| Ссылка на статью |
| | Ачкасов В.Н., Смерек В.А., Уткин Д.М., Зольников В.К. Методы обеспечения стойкости микросхем к одиночным событиям при проектировании радиационно-стойких микросхем // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2012. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2012. С. 634-637. |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2012/pdf/D86.pdf |
