| Способ тестопригодного проектирования логических преобразователей |
|
 |
|
|
| Авторы |
| | Тюрин С.В. |
| | Подвальный С.Л. |
| | Акинина Ю.С. |
| Год публикации |
| | 2010 |
| УДК |
| | 681.518.5 (004.054) |
|
| Аннотация |
| | Предметом исследований являются принципы построения и практической реализации логических BIST-систем.
Для решения поставленных задач апробирован новый подход: от рациональной структуры тестовой матрицы к тестопригодной структуре логических преобразователей. На основе положений геометрической теории управления, доказано, что задачу синтеза рациональных тестов целесообразно ставить и решать как задачу целенаправленного уменьшения до предельной величины симметрии битовой структуры тестовых матриц (Т-матриц), или как задачу максимизации бинарных «антагонизмов» логических значений в контролируемых точках цифрового устройства. |
| Ключевые слова |
| | тестопригодное проектирование,
логический преобразователь, базис Жегалкина |
| Ссылка на статью |
| | Тюрин С.В., Подвальный С.Л., Акинина Ю.С. Способ тестопригодного проектирования логических преобразователей // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2010. Сборник трудов / под общ. ред. академика А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2010. С. 36-41. |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2010/papers/m10-247-11441.pdf |
