Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Прогнозирование изменения состояния параметров технического объекта с помощью интеллектуального микропроцессорного модуля  

Авторы
 Клевцов С.И.
Год публикации
 2010
УДК
 681.3.01

Аннотация
 Для выполнения прогнозной оценки состояния совокупности параметров технического объекта разработаны модель и методика, ориентированные на использование в интеллектуальных микропроцессорных модулях систем мониторинга и управления. Предложен подход к прогнозированию изменения параметра технического объекта с помощью сглаживающего прогнозирующего кубического сплайна.
Ключевые слова
 Прогноз, интеллектуальный модуль микропроцессора, сплайн, оценка состояния
Ссылка на статью
 Клевцов С.И. Прогнозирование изменения состояния параметров технического объекта с помощью интеллектуального микропроцессорного модуля // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2010. Сборник трудов / под общ. ред. академика А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2010. С. 619-622.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2010/papers/m10-199-38781.pdf

Copyright © 2009-2024 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН