| Моделирование SEU сбоев в субмикронных КНИ-КМОП ячейках памяти с учетом температурных эффектов |
|
|
| Авторы |
| | Краснюк А.А. |
| | Стенин В.Я. |
| Год публикации |
| | 2005 |
| УДК |
| | 621.38 |
|
| Аннотация |
| | Проведены исследования, показывающие допустимость применения SPICE моделирования для исследования SEU сбоев в симметричных триггерных ячейках памяти, а также позволяющие достаточно просто оценивать влияние температуры на характеристики сбоеустойчивости. |
| Ключевые слова |
| | Моделирование SEU сбоев, субмикронные КНИ-КМОП ячейки памяти |
| Ссылка на статью |
| | Краснюк А.А., Стенин В.Я. Моделирование SEU сбоев в субмикронных КНИ-КМОП ячейках памяти с учетом температурных эффектов // Проблемы разработки перспективных микроэлектронных систем - 2005. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2005. С. 191-195. |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2005/28.doc |
