| Метод проверки правил электромиграции в СБИС |
|
|
| Авторы |
| | Меликян В.Ш. |
| Год публикации |
| | 2008 |
| УДК |
| | 621.3.049.771 |
|
| Аннотация |
| | Описаны новый метод проверки правил электромиграции в СБИС, а также возможности соответствующего программного пакета, учитывающие реалии субмикронных технологий и удовлетворяющие современным практическим требованиям
проектирования СБИС. |
| Ключевые слова |
| | проверка правил, электромиграция, СБИС |
| Ссылка на статью |
| | Меликян В.Ш. Метод проверки правил электромиграции в СБИС // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2008. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2008. С. 159-163. |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2008/26.pdf |
