| Оптимальный алгоритм генерации полного теста для проверки простейших одиночных логико-динамических неисправностей для N-входового комбинационного устройства |
|
 |
|
|
| Авторы |
| | Левицкий Д.О. |
| Год публикации |
| | 2022 |
| DOI |
| | 10.31114/2078-7707-2022-2-16-19 |
| УДК |
| | 519.7 : 004.312 : 004.43 |
|
| Аннотация |
| | Исследуется вопрос о минимальной длине полного теста для проверки всех простейших одиночных логико-динамических неисправностей для N-входового комбинационного устройства. Описывается оптимальный алгоритм генерации такого полного теста именно минимальной длины, приводится программа на C++, реализующая этот алгоритм и часть построенного теста. |
| Ключевые слова |
| | тестирование, логико-динамические неисправности, двоичные комбинационные схемы, алгоритм построения теста минимальной длины, техническая диаг-ностика. |
| Ссылка на статью |
| | Левицкий Д.О. Оптимальный алгоритм генерации полного теста для проверки простейших одиночных логико-динамических неисправностей для N-входового комбинационного устройства // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2022. Выпуск 2. С. 16-19. doi:10.31114/2078-7707-2022-2-16-19 |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2022/pdf/D015.pdf |
