| Особенности оценки ионизационной реакции СБИС при импульсном нейтронном воздействии |
|
 |
|
|
| Авторы |
| | Чумаков А.И. |
| | Чумаков К.А. |
| | Дианков С.Ю. |
| Год публикации |
| | 2022 |
| DOI |
| | 10.31114/2078-7707-2022-1-59-64 |
| УДК |
| | 621.382.323 |
|
| Аннотация |
| | Представлен подход для моделирования ионизационной реакции СБИС при воздействии импульсного нейтронного излучения за счет генерации электронно-дырочных пар в полупроводниковых структурах. Показано, что в зависимости от интенсивности воздействия ионизационная реакция формируются интегрированной реакцией всего кристалла, одиночными радиационными эффектами или одиночными ионизационными эффектами, имеющими место с одновременным формированием импульса ионизационного тока. Представлены критерии для определения каждой из этих областей формирования ионизационной реакции. Во всех областях интенсивностей нейтронного излучения представлены модели для оценки уровней сбоев в СБИС. |
| Ключевые слова |
| | Объемные ионизационные радиационные эффекты, импульсное нейтронное излучение, интегрированная ионизационная реакция, одиночные радиационные эффекты. |
| Ссылка на статью |
| | Чумаков А.И., Чумаков К.А., Дианков С.Ю. Особенности оценки ионизационной реакции СБИС при импульсном нейтронном воздействии // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2022. Выпуск 1. С. 59-64. doi:10.31114/2078-7707-2022-1-59-64 |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2022/pdf/D005.pdf |
