Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Расширение возможностей SPICE-подобных программ за счет учета эффектов старения в МОП схемах, обусловленных эффектами горячих носителей, пробоя диэлектрика и электромиграции  

Авторы
 Харитонов И.А.
Год публикации
 2021
DOI
 10.31114/2078-7707-2021-4-73-80
УДК
 621.382.3

Аннотация
 Описаны дополнения к стандартным SPICE моделям МОП элементов схем, учитывающие эффекты их старения, обусловленные влиянием горячих носителей, пробоя диэлектрика и электромиграции. Наборы таких моделей вместе со средствами определения их параметров и средствами SPICE моделирования объединены в подсистему SPICE моделирования КМОП схем с учетом факторов старения и оценки параметров надежности и времени бессбойной работы. Приведены примеры моделирования характеристик аналоговых и цифровых фрагментов КМОП схем с учетом указанных эффектов старения.
Ключевые слова
 КМОП схемы, эффекты старения, горячие носители, NBTI, PBTI, HCI, TDDD, электромииграция, надежность, время бессбойной работы, SPICE модели, эквивалентные схемы, схемотехническое моделирование, аналоговые схемы, цифровые схемы
Ссылка на статью
 Харитонов И.А. Расширение возможностей SPICE-подобных программ за счет учета эффектов старения в МОП схемах, обусловленных эффектами горячих носителей, пробоя диэлектрика и электромиграции // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2021. Выпуск 4. С. 73-80. doi:10.31114/2078-7707-2021-4-73-80
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2021/pdf/D088.pdf

Copyright © 2009-2024 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН