Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Моделирование токов утечки сегнетоэлектрических конденсаторных элементов интегральных схем  

Авторы
 Сигов А.С.
 Подгорный Ю.В.
 Воротилов К.А.
Год публикации
 2021
DOI
 10.31114/2078-7707-2021-4-40-45
УДК
 537.226, 539.216.2

Аннотация
 Рассмотрены вопросы моделирования токов утечки сегнетоэлектрических элементов интегральных схем. Предложена модель, адекватно описывающая вольт-амперные характеристики с учетом полевой миграции кислородных вакансий.
Ключевые слова
 интегральная схема, сегнетоэлектрики, токи утечки, моделирование.
Ссылка на статью
 Сигов А.С., Подгорный Ю.В., Воротилов К.А. Моделирование токов утечки сегнетоэлектрических конденсаторных элементов интегральных схем // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2021. Выпуск 4. С. 40-45. doi:10.31114/2078-7707-2021-4-40-45
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2021/pdf/D051.pdf

Copyright © 2009-2024 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН