Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Имплементация средств самотестирования модулей памяти DDR3 в ПЛИС Spartan3e  

Авторы
 Волобуев С.В.
 Рябцев В.Г.
Год публикации
 2021
DOI
 10.31114/2078-7707-2021-1-70-76
УДК
 621.317

Аннотация
 Приведены основные процедуры имплементации средств самотестирования модулей памяти DDR3 в ПЛИС семейства Spartan3e. Предложена структура мультипроцессорных средств MBIST, обладающих высоким быстродействием за счет одновременного формирования тестовых воздействий для нескольких смежных тактов за один период сигнала синхронизации.
Ключевые слова
 средства самотестирования, модель счетчика, модули памяти, формат команд и микроопераций.
Ссылка на статью
 Волобуев С.В., Рябцев В.Г. Имплементация средств самотестирования модулей памяти DDR3 в ПЛИС Spartan3e // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2021. Выпуск 1. С. 70-76. doi:10.31114/2078-7707-2021-1-70-76
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2021/pdf/D001.pdf

Copyright © 2009-2024 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН