| Модель выявления контрафактных восстановленных микросхем СОЗУ с помощью ускоренного старения |
|
 |
|
|
| Авторы |
| | Старцев В.Н. |
| | Семенов А.В. |
| Год публикации |
| | 2020 |
| DOI |
| | 10.31114/2078-7707-2020-4-225-230 |
| УДК |
| | 621.3.082.74 |
|
| Аннотация |
| | В статье предложена модель, позволяющая выявить микросхемы СОЗУ, бывшие в употреблении, на основе динамики увеличения количества нестабильных ячеек памяти в результате воздействия ускоренного старения процесса деградации полупроводников NBTI. |
| Ключевые слова |
| | контрафакт, ускоренные испытания на безотказность, NBTI, статическое ОЗУ. |
| Ссылка на статью |
| | Старцев В.Н., Семенов А.В. Модель выявления контрафактных восстановленных микросхем СОЗУ с помощью ускоренного старения // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2020. Выпуск 4. С. 225-230. doi:10.31114/2078-7707-2020-4-225-230 |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2020/pdf/D120.pdf |
