Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Сравнительная характеристика методов повышения сбоеустойчивости топологии блоков целочисленного умножения/деления в проектных нормах 65нм  

Авторы
 Власов А.О.
 Клишин А.В.
 Желудков Н.В.
 Эмин Е.К.
 Горбунов М.С.
Год публикации
 2020
DOI
 10.31114/2078-7707-2020-3-188-193
УДК
 004.052.2

Аннотация
 Для повышения сбоеустойчивости современных цифровых схем может применяться множество различных подходов к проектированию. Одним из наиболее распространенных методов повышения сбоеустойчивости является тройное модульное резервирование (ТМР). Существует целое множество различных вариаций троирования. Однако, аппаратное троирование не гарантирует полную стойкость к одиночным радиационным эффектам. Целесообразность применения определенного подхода зависит от архитектуры, технического задания и ограничений по быстродействию. В данной статье рассматриваются вопросы выбора и разработки оптимальной схемы троирования в рамках соответствия стандартной методологии проектирования, что позволяет использовать немодифицированный RTL код и библиотеку стандартных ячеек. Предлагается сравнительная характеристика стойкости различных вариантов троирования к одиночным сбоям на основе метода оценки сбоеустойчивости с учетом их топологического представления.
Ключевые слова
 SEU, SET, ТМР, TTR, одиночные эффекты.
Ссылка на статью
 Власов А.О., Клишин А.В., Желудков Н.В., Эмин Е.К., Горбунов М.С. Сравнительная характеристика методов повышения сбоеустойчивости топологии блоков целочисленного умножения/деления в проектных нормах 65нм // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2020. Выпуск 3. С. 188-193. doi:10.31114/2078-7707-2020-3-188-193
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2020/pdf/D104.pdf

Copyright © 2009-2024 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН