Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Калибровка антенных решёток с малым числом элементов: проблемы и их решения
Авторы
	Курганов В.В.
	Джиган В.И.
Год публикации
	2020
DOI
	10.31114/2078-7707-2020-4-159-168
УДК
	621.396.67
Аннотация
	Сегодня антенные решётки (АР) все чаще используются в качестве антенн современных радиотехнических систем. С помощью АР можно немеханическим способом управлять формой диаграммы направленности (ДН) и положением её основного лепестка, именуемого лучом такой антенной системы. В составе каждого канала АР имеются СВЧ-компоненты для управления амплитудой и фазой проходящего в нём сигнала. Эти компоненты характеризуются ошибками установки амплитуды и фазы, что отрицательным образом влияет на форму ДН и её характеристики. Поэтому для компенсации данных ошибок необходимо использовать калибровку АР как на этапе производства, так и её эксплуатации. В работе представлена классификация методов калибровки; определены наиболее подходящие и перспективные методы для калибровки малоэлементных АР; рассмотрены принципы работы этих методов, выявлены достоинства и недостатки методов, а также условия, в которых целесообразнее использовать тот или иной метод. Рассмотрены следующие методы калибровки: метод вращения вектора электрического поля элемента (Rotating-Element Electric Field Vector) – REV-метод; метод измерения двух элементов (Measurement of Two Elements) – MTE-метод, алгоритмы Сораса (Sorace), Левита (Leavitt), авторов настоящей статьи, а так же корреляционный алгоритм. Эти методы являются наиболее привлекательными с практической точки зрения, так как могут быть использованы не только при заводской калибровке АР, но и в процессе эксплуатации.
Ключевые слова
	антенная решётка, калибровка антенных решёток, бесфазовые методы калибровки, REV-метод, MTE-метод, корреляционный алгоритм калибровки.
Ссылка на статью
	Курганов В.В., Джиган В.И. Калибровка антенных решёток с малым числом элементов: проблемы и их решения // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2020. Выпуск 4. С. 159-168. doi:10.31114/2078-7707-2020-4-159-168
Адрес статьи
	http://www.mes-conference.ru/data/year2020/pdf/D083.pdf