Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Смолин А.А.

Институт экстремальной прикладной электроники НИЯУ «МИФИ»

Листинг всех работ автора. Нажмите на название работы для того, чтобы получить по ней полную информацию.

2014 
  Смолин А.А., Уланова А.В., Согоян А.В., Демидов А.А.
Моделирование радиационно-индуцированных токов утечки в МОП-структурах при воздействии гамма- и рентгеновского излучений
2016 
  Чумаков А.И., Согоян А.В., Боруздина А.Б., Смолин А.А., Печенкин А.А.
Механизмы многократных сбоев в микросхемах памяти
  Селецкий А.В., Шелепин Н.А., Смолин А.А., Уланова А.В.
Исследование влияния разброса технологических параметров СБИС на стойкость к эффектам накопленной дозы радиации с помощью средств приборно-технологического моделирования
2018 
  Согоян А.В., Чумаков А.И., Смолин А.А.
Оценка частоты одиночных радиационных эффектов для современных СБИС
 

Copyright © 2009-2024 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН