Улучшение топологии стандартных ячеек субмикронных СБИС для повышения выхода годных |
|
|
Авторы |
| Муханов К.С. |
| Сотников М.А. |
| Улуханов Э.А. |
Год публикации |
| 2006 |
УДК |
| 621.3.049.771.14.011.752-022.53 |
|
Аннотация |
| Повышение выхода годных в процессе синтеза топологии – одна из актуальных задач. В данной статье рассмотрена проблема автоматического улучшения качества топологии стандартных ячеек с
точки зрения выхода годных. Предложен эффективный алгоритм, позволяющий учитывать приоритизированные рекомендуемые правила без увеличения площади топологии. Кроме того, предложен алгоритм вставки дополнительных контактов к слоям диффузии, поликремния и металла. Экспериментальные результаты подтверждают эффективность разработанных алгоритмов. |
Ключевые слова |
| выход годных, рекомендуемые правила, стандартные ячейки |
Ссылка на статью |
| Муханов К.С., Сотников М.А., Улуханов Э.А. Улучшение топологии стандартных ячеек субмикронных СБИС для повышения выхода годных // Проблемы разработки перспективных микроэлектронных систем - 2006. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2006. С. 115-119. |
Адрес статьи |
| http://www.mes-conference.ru/data/year2006/19.pdf |