Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Проектирование топологии сбоеустойчивых ячеек статической памяти высокой плотности  

Авторы
 Балбеков А.О.
 Горбунов М.С.
 Галимов А.М.
Год публикации
 2020
DOI
 10.31114/2078-7707-2020-2-132-139
УДК
 004.052.2

Аннотация
 Для защиты космической электроники от воздействия тяжелых заряженных частиц применяется ряд архитектурных и схемотехнических мер: резервирование, сбоеустойчивые схемы. В интегральных схемах, выполненных по технологии порядка 65 нм, одна частица может сбить несколько копий резервированного сигнала или затронуть несколько чувствительных узлов ячейки DICE. В данной статье представлены рекомендации по разработке топологии интегральных схем, которые позволят минимизировать кратность множественных сбоев при поддержании высокой плотности устройств, тем самым усилив эффективность архитектурных мер защиты.
Ключевые слова
 ТЗЧ, SET, топология сбоеустойчивых ячеек памяти.
Ссылка на статью
 Балбеков А.О., Горбунов М.С., Галимов А.М. Проектирование топологии сбоеустойчивых ячеек статической памяти высокой плотности // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2020. Выпуск 2. С. 132-139. doi:10.31114/2078-7707-2020-2-132-139
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2020/pdf/D026.pdf

Copyright © 2009-2024 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН