Разработка и исследование моделей блоков цифровых систем на основе их представления в виде семейства стационарных динамических систем |
|
|
|
|
Авторы |
| Иванников А.Д. |
Год публикации |
| 2018 |
DOI |
| 10.31114/2078-7707-2018-2-46-51 |
УДК |
| 681.31 |
|
Аннотация |
| При отладке проектов цифровых систем методом моделирования важной задачей является выбор набора отладочных тестов, то есть входных воздействий, которые подаются на компьютерную модель проектируемой системы с целью проверки правильности ее функционирования. Формирование полного в каком-то смысле набора отладочных тестов возможно тем или иным способом, если известно множество допустимых входных воздействий на проектируемую систему. Формирование описания такого множества возможно, если известно описание множества допустимых входных воздействий на блоки проектируемой цифровой системы. В статье осуществляется исследование моделей блоков цифровых систем, прежде всего, с точки зрения описания множества допустимых входных воздействий. В качестве модели цифровых блоков используется множество стационарных динамических систем с непрерывным временем и дискретными значениями логических сигналов. Поскольку в ряде случаев обмен сигналами цифровых блоков с другими блоками системы и внешним миром инициируется самими блоками, то в качестве отладочных тестов рассматриваются входные взаимодействия, включающие изменения как входных сигналов блока, так и выходных сигналов управления обменом. Предлагается графовое представление допустимых входных взаимодействий цифровых блоков и системы в целом для каждой выполняемой функции. |
Ключевые слова |
| логико-временной анализ цифровых систем, отладка методом моделирования, структура множества входных взаимодействий, входные взаимодействия цифровых блоков, графовое представление множества входных взаимодействий |
Ссылка на статью |
| Иванников А.Д. Разработка и исследование моделей блоков цифровых систем на основе их представления в виде семейства стационарных динамических систем // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем. 2018. Выпуск 2. С. 46-51. doi:10.31114/2078-7707-2018-2-46-51 |
Адрес статьи |
| http://www.mes-conference.ru/data/year2018/pdf/D112.pdf |