Подход к стохастическому тестированию RTL-моделей многоядерных микропроцессоров |
|
|
|
|
Авторы |
| Гревцев Н.А. |
| Чибисов П.А. |
Год публикации |
| 2018 |
DOI |
| 10.31114/2078-7707-2018-2-52-58 |
УДК |
| 004.052.42 |
|
Аннотация |
| В статье предложен маршрутраннего тестирования многоядерных микропроцессоров без создания отдельных генераторов тестов, направленных исключительно на многоядерное тестирование. В статье рассматривается способ адаптирования имеющихся средств одноядерного тестирования под полноценный инструмент многоядерного тестирования. Предложенный метод был успешно применен для тестирования RTL-модели разрабатываемого в НИИСИ РАН двухъядерного микропроцессора с СМП. |
Ключевые слова |
| многоядерные микропроцессоры, процессор с общей памятью, функциональная верификация, RTL-модель микропроцессора, стохастическое тестирование, метрики тестового покрытия, генерация псевдослучайных тестов. |
Ссылка на статью |
| Гревцев Н.А., Чибисов П.А. Подход к стохастическому тестированию RTL-моделей многоядерных микропроцессоров // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем. 2018. Выпуск 2. С. 52-58. doi:10.31114/2078-7707-2018-2-52-58 |
Адрес статьи |
| http://www.mes-conference.ru/data/year2018/pdf/D054.pdf |