| Контроль однородности партии типовых микросхем при измерении радиочастотных характеристик |
|
 |
|
|
| Авторы |
| | Семенов А.В. |
| | Федорец В.Н. |
| | Старцев В.Н. |
| Год публикации |
| | 2016 |
| УДК |
| | 621.3.082.74 |
|
| Аннотация |
| | Особенности современного производства микросхем предполагает использование методов проверки моделей, чувствительных к бракованным и некачественным изделиям, в настоящей статье приведен подход, позволяющий обнаруживать несоответствующие изделия путем измерения совокупностей принципиально различных радиочастотных характеристик. |
| Ключевые слова |
| | контроль качества, s-параметры, выявление контрафакта |
| Ссылка на статью |
| | Семенов А.В., Федорец В.Н., Старцев В.Н. Контроль однородности партии типовых микросхем при измерении радиочастотных характеристик // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2016. № 3. С. 49-56. |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2016/pdf/D185.pdf |
