Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Снижение аппаратурных затрат и увеличение коэффициента компрессии средств тестирования константных неисправностей КМОП цифровых СБИС  

Авторы
 Ладнушкин М.С.
Год публикации
 2016
УДК
 621.382.2

Аннотация
 Проведён теоретически анализ элементов средств тестирования на основе технологии сканирования с компрессией и маскированием. Предложен метод проектирования средств тестирования КМОП цифровых СБИС, который позволил увеличить коэффициент компрессии на 23% при этом сократить аппаратурные затраты на дополнительную тестовую логику в 5 раз.
Ключевые слова
 средства тестирования и отбраковки, скан-технология, компрессия тестовых сигналов, генерация тестовых векторов, моделирование.
Ссылка на статью
 Ладнушкин М.С. Снижение аппаратурных затрат и увеличение коэффициента компрессии средств тестирования константных неисправностей КМОП цифровых СБИС // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2016. № 2. С. 68-75.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2016/pdf/D166.pdf

Copyright © 2009-2024 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН