| Тестирование и предельные метрологические возможности импульсно-потенциального АЦП в СнК |
|
 |
|
|
| Авторы |
| | Крутчинский С.Г. |
| | Жебрун Е.А. |
| Год публикации |
| | 2014 |
| УДК |
| | 621.375 |
|
| Аннотация |
| | Предложена процедура тестирования импульсно-потенциального АЦП, направленная на минимизацию влияния дрейфа нуля аналоговых трактов на точность преобразования входного сигнала. Процедура основывается на базовом свойстве этого АЦП – квантование по энергии. Показано, что вводимые фазы тестирования позволяют определить двоичные слова, которые в общей аддитивной последовательности вычисления измеряемой величины являются поправочными и не увеличивают её чувствительность. Сформулированы параметрические условия применимости метода, которые обосновывают необходимость решения вспомогательных схемотехнических задач. |
| Ключевые слова |
| | Аналого-цифровые преобразователи, тестирование СФ блоков, смешанные системы на кристалле, дрейф нуля, погрешность измерения. |
| Ссылка на статью |
| | Крутчинский С.Г., Жебрун Е.А. Тестирование и предельные метрологические возможности импульсно-потенциального АЦП в СнК // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2014. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2014. Часть 3. С. 15-20. |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2014/pdf/D128.pdf |
