| Универсальная система отладки СБИС по интерфейсу JTAG на основе скан-технологии |
|
 |
|
|
| Авторы |
| | Ладнушкин М.С. |
| Год публикации |
| | 2014 |
| УДК |
| | УДК 621.382.2 |
|
| Аннотация |
| | Проведен анализ технологии отбраковки и отладки современных СБИС. Предложена система отладки СБИС по интерфейсу JTAG с использованием технологии сканирования, которая позволяет извлекать состояния всех триггеров СБИС. Данная система отладки отличается малой занимаемой площадью на кристалле (0,2%), универсальностью, высоким тестовым покрытием в режиме отбраковки. |
| Ключевые слова |
| | Отбраковка СБИС, отладка, JTAG, скан-технология. |
| Ссылка на статью |
| | Ладнушкин М.С. Универсальная система отладки СБИС по интерфейсу JTAG на основе скан-технологии // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2014. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2014. Часть 2. С. 29-32. |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2014/pdf/D041.pdf |
