| Сбоеустойчивость двухфазных 28 нм КМОП инверторов к одиночным эффектам воздействия ядерных частиц |
|
 |
|
|
| Авторы |
| | Катунин Ю.В. |
| | Стенин В.Я. |
| Год публикации |
| | 2014 |
| УДК |
| | 621.382+621.396.6 |
|
| Аннотация |
| | Использование КМОП двухфазной логики в 28 нм КМОП СБИС, устойчивых к воздействию отдельных ядерных частиц, зависит от возможностей топологическими методами минимизировать эффекты воздействия частиц. Влияние емкостной связи дифференциальных входов (выходов) на значения критических зарядов можно оценить по пороговым критическим характеристикам двухфазных КМОП инверторов. Кратное воздействие на чувствительные узлы двухфазных инверторов можно частично скомпенсировать, используя взаимное топологическое расположение транзисторов внутри каждого канала двухфазных элементов |
| Ключевые слова |
| | Двухфазный инвертор, ядерная частица, моделирование, критический заряд, топология |
| Ссылка на статью |
| | Катунин Ю.В., Стенин В.Я. Сбоеустойчивость двухфазных 28 нм КМОП инверторов к одиночным эффектам воздействия ядерных частиц // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2014. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2014. Часть 3. С. 141-144. |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2014/pdf/D036.pdf |
