| Методика автоматизации тестопригодного проектирования аналоговых ИС по технологии OBIST |
|
 |
|
|
| Авторы |
| | Мосин С.Г. |
| Год публикации |
| | 2014 |
| УДК |
| | 004.4 |
|
| Аннотация |
| | В работе предложена методика автоматизации тестопригодного проектирования аналоговых ИС по технологии OBIST, формализующая проектные процедуры разработки тестирующей подсхемы и условий тестирования. Предложены структурные решения по реконфигурированию оригинальной схемы в автогенератор и правила, обеспечивающие условия самовозбуждения ИС в режиме тестирования. Представлены примеры реализации тестирующих подсхем для активных фильтров. |
| Ключевые слова |
| | автоматизация, тестопригодное проектирование, реконфигурирование, аналоговые интегральные схемы, OBIST |
| Ссылка на статью |
| | Мосин С.Г. Методика автоматизации тестопригодного проектирования аналоговых ИС по технологии OBIST // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2014. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2014. Часть 1. С. 95-100. |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2014/pdf/D020.pdf |
