Главная
Авторы Статьи Год проведения Тематика Организации Конференция МЭС
Метод математического тестирования программ анализа переходных процессов в САПР электронных схем |
|
|
|
|
Авторы |
| Маничев В.Б. |
| Жук Д.М. |
| Витюков Ф.А. |
Год публикации |
| 2014 |
УДК |
| УДК 519.622 |
|
Аннотация |
| В статье рассматривается метод тестирования программ анализа переходных процессов в EDA пакетах, использующих SPICE симулятор (на примере программ NI-Multisim, Cadance-OrCAD-PSPICE, SYMICA), на математических тестах с известным математически точным решением. Рассмотрены только «трудные» тестовые задачи. Приведено сравнение с решателями систем ОДУ из математических пакетов. Показан основной недостаток SPICE симулятора – выдача по умолчанию неверного (иногда правдоподобного, но не достаточно точного по сравнению с заданной точностью) решения без предупреждения пользователя. |
Ключевые слова |
| автоматизированное проектирование электронных схем, математическое моделирование, обыкновенные дифференциальные уравнения (ОДУ), SPICE симулятор. |
Ссылка на статью |
| Маничев В.Б., Жук Д.М., Витюков Ф.А. Метод математического тестирования программ анализа переходных процессов в САПР электронных схем // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2014. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2014. Часть 1. С. 83-88. |
Адрес статьи |
| http://www.mes-conference.ru/data/year2014/pdf/D005.pdf |
|
|