| Опыт разработки встроенных средств и методов измерений характеристик микроэлектронных систем |
|
|
| Авторы |
| | Зубаков А.В. |
| | Кондратенко С.В. |
| | Севрюков А.Н. |
| Год публикации |
| | 2005 |
| УДК |
| | 621.382; 621.317.1 |
|
| Аннотация |
| | Приводится общий подход к разработке встроенных средств и методов лабораторного или производственного тестирования микроэлектронных устройств различного типа и назначения. Эти методы и средства предназначены для отбраковки, а также проведения квалификационных испытаний, предусматривающих измерения основных технических характеристик данных устройств с учетом возможностей и ограничений, накладываемых имеющейся измерительной аппаратурой. Представлены примеры реализации встроенных средств и методов измерений для ряда разработанных и изготовленных цифровых и смешанных микросхем и сложно-функциональных блоков. |
| Ключевые слова |
| | встроенные средства тестирования, типовая оценочная схема, контроль тока потребления, отбраковка, квалификационные испытания |
| Ссылка на статью |
| | Зубаков А.В., Кондратенко С.В., Севрюков А.Н. Опыт разработки встроенных средств и методов измерений характеристик микроэлектронных систем // Проблемы разработки перспективных микроэлектронных систем - 2005. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2005. С. 328-333. |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2005/49.doc |
