| Анализ задержек в микроархитектурных моделях коммуникационных фабрик |
|
 |
|
|
| Авторы |
| | Викторов Ю.О. |
| | Готманов А.Н. |
| Год публикации |
| | 2012 |
| УДК |
| | 004.942 |
|
| Аннотация |
| | В этой статье мы изложим теоретические основы метода анализа задержек в микроархитектурных моделях коммуникационных фабрик. Мы покажем, как получить верхнюю оценку задержки и верифицировать ее с помощью ранжирующих функций. |
| Ключевые слова |
| | качество обслуживания, формальная верификация, xMAS, системы на кристалле, коммуникационные фабрики, ранжирующие функции. |
| Ссылка на статью |
| | Викторов Ю.О., Готманов А.Н. Анализ задержек в микроархитектурных моделях коммуникационных фабрик // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2012. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2012. С. 67-72. |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2012/pdf/D116.pdf |
