Главная
Авторы Статьи Год проведения Тематика Организации Конференция МЭС
Методика встроенного тестирования субмикронных цифровых КМОП СБИС |
|
|
|
|
Авторы |
| Ладнушкин М.С. |
Год публикации |
| 2012 |
УДК |
| 621.382.2 |
|
Аннотация |
| Предложена комплексная методика разработки встроенного тестирования КМОП СБИС, которая предусматривает создание иерархической модели СЦТ с компрессией, использование моделей ОЗУ для тестирования связей блоков памяти, применение технологии Pattern Map для тестирования блоков ОЗУ небольшой глубины и технологии MBIST для остальных блоков ОЗУ. В результате применения данной методики снижено время разработки на 20%, на 5% увеличено тестовое покрытие, а также поднята эффективность и сокращена площадь кристалла на 0,05% за счет применения технологии Pattern Map вкупе с MBIST. |
Ключевые слова |
| Отбраковка, тестирование, микросхема, ОЗУ, сканирующие цепочки триггеров, технология Pattern Map. |
Ссылка на статью |
| Ладнушкин М.С. Методика встроенного тестирования субмикронных цифровых КМОП СБИС // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2012. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2012. С. 485-488. |
Адрес статьи |
| http://www.mes-conference.ru/data/year2012/pdf/D96.pdf |
|
|