Современные тенденции оценки и контроля производительности микропроцессоров на стадии их разработки |
|
|
|
|
Авторы |
| Николина Н.В. |
| Чибисов П.А. |
| Аряшев С.И. |
Год публикации |
| 2012 |
УДК |
| 004 |
|
Аннотация |
| Рассмотрены методы оценки производительности микропроцессора на этапе разработки, а именно: аналитические модели, потактовые эмуляторы, RTL-моделирование, ПЛИС-прототипирование. В статье анализируются достоинства и недостатки данных методов. Также рассмотрены тестовые программы, позволяющие оценить производительность микропроцессора. |
Ключевые слова |
| оценка производительности, разработка микропроцессора |
Ссылка на статью |
| Николина Н.В., Чибисов П.А., Аряшев С.И. Современные тенденции оценки и контроля производительности микропроцессоров на стадии их разработки // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2012. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2012. С. 489-494. |
Адрес статьи |
| http://www.mes-conference.ru/data/year2012/pdf/D37.pdf |