Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Современные тенденции оценки и контроля производительности микропроцессоров на стадии их разработки  

Авторы
 Николина Н.В.
 Чибисов П.А.
 Аряшев С.И.
Год публикации
 2012
УДК
 004

Аннотация
 Рассмотрены методы оценки производительности микропроцессора на этапе разработки, а именно: аналитические модели, потактовые эмуляторы, RTL-моделирование, ПЛИС-прототипирование. В статье анализируются достоинства и недостатки данных методов. Также рассмотрены тестовые программы, позволяющие оценить производительность микропроцессора.
Ключевые слова
 оценка производительности, разработка микропроцессора
Ссылка на статью
 Николина Н.В., Чибисов П.А., Аряшев С.И. Современные тенденции оценки и контроля производительности микропроцессоров на стадии их разработки // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2012. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2012. С. 489-494.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2012/pdf/D37.pdf

Copyright © 2009-2024 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН