Сравнительное моделирование сбоеустойчивости суб-100-нм двухфазных КМОП инверторов с разными проектными нормами к воздействию локальных импульсов тока |
|
|
|
|
Авторы |
| Катунин Ю.В. |
| Стенин В.Я. |
Год публикации |
| 2012 |
УДК |
| 621.382+621.396.6 |
|
Аннотация |
| Определены характеристики чувствительности двухфазных КМОП инверторов с проектными нормами 90 нм, 65 нм и 45 нм. Воздействие отдельной ядерной частицы моделировалось импульсом тока с постоянными времени нарастания 10 пс и спада 30 пс. Установлены допустимые значения емкостей связи выходов (входов) дифференциальных частей двухфазных КМОП логических элементов в зависимости от проектной нормы. Критические заряды для двухфазных инверторов более, чем в 10 раз превышают значения для инверторов с традиционной КМОП схемотехникой при той же проектной норме. |
Ключевые слова |
| двухфазный КМОП инвертор; локальный импульс тока; критический заряд; проектная норма |
Ссылка на статью |
| Катунин Ю.В., Стенин В.Я. Сравнительное моделирование сбоеустойчивости суб-100-нм двухфазных КМОП инверторов с разными проектными нормами к воздействию локальных импульсов тока // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2012. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2012. С. 427-430. |
Адрес статьи |
| http://www.mes-conference.ru/data/year2012/pdf/D35.pdf |