| Особенности радиационных испытаний аналоговых микросхем |
|
 |
|
|
| Авторы |
| | Дворников О.В. |
| | Чеховский В.А. |
| Год публикации |
| | 2010 |
| УДК |
| | 621.382 |
|
| Аннотация |
| | Рассмотрены схемы включения и выбор входного сигнала аналоговых микросхем при радиационных испытаниях, предложены критерии оценки суммарного изменения параметров при радиационном воздействии. Сформулирована последовательность работ при радиационных испытаниях и описана блок схема испытательной установки, особое внимание уделено регистрации одиночных событий. |
| Ключевые слова |
| | Радиационная стойкость, дистанционное измерение параметров, аналоговые микросхемы, одиночные события, кратковременный сбой. |
| Ссылка на статью |
| | Дворников О.В., Чеховский В.А. Особенности радиационных испытаний аналоговых микросхем // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2010. Сборник трудов / под общ. ред. академика А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2010. С. 289-294. |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2010/papers/m10-326-11403.pdf |
