| Алгоритм модификации топологии стандартных ячеек СБИС с целью учёта эффекта электромиграции |
|
 |
|
|
| Авторы |
| | Муханов К.С. |
| | Сотников М.А. |
| Год публикации |
| | 2010 |
| УДК |
| | 621.3.049.771.14.011.752-022.53 |
|
| Аннотация |
| | В данной статье рассмотрена проблема автоматического улучшения качества топологии стандартных ячеек СБИС путём учёта эффекта электромиграции. Предложено усовершенствование алгоритма модификации топологии, основанного на графе ограничений. Предложенное усовершенствование, используя данные, полученные программой ClariNet после анализа исходной ячейки, позволяет произвести коррекцию топологии для повышения её электромиграционной стойкости. Эффективность предложенного алгоритма подтверждена сравнением электромиграционных характеристик топологии стандартных ячеек до и после их коррекции. |
| Ключевые слова |
| | электромиграция, сжатие топологии, стандартные ячейки |
| Ссылка на статью |
| | Муханов К.С., Сотников М.А. Алгоритм модификации топологии стандартных ячеек СБИС с целью учёта эффекта электромиграции // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2010. Сборник трудов / под общ. ред. академика А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2010. С. 208-213. |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2010/papers/m10-27-38301.pdf |
