Главная
Авторы Статьи Год проведения Тематика Организации Конференция МЭС
Моделирование статической погрешности конвейерных АЦП с калибровкой |
|
|
|
|
Авторы |
| Лифшиц В.Б. |
| Агрич Ю.В. |
Год публикации |
| 2010 |
УДК |
| 621.382 |
|
Аннотация |
| Предложена модель, позволяющая быстро оценить влияние технологических факторов на статическую погрешность конвейерных АЦП с калибровкой до начала схемотехнического проектирования. Рассмотрены основные источники погрешности. Приведены примеры из опыта разработки 12-разрядного АЦП по 180 нм технологии. |
Ключевые слова |
| АЦП, ЦАП, УВХ, коррекция, ка-либровка, Flash, RSD, INL, DNL |
Ссылка на статью |
| Лифшиц В.Б., Агрич Ю.В. Моделирование статической погрешности конвейерных АЦП с калибровкой // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2010. Сборник трудов / под общ. ред. академика А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2010. С. 527-532. |
Адрес статьи |
| http://www.mes-conference.ru/data/year2010/papers/m10-135-19281.pdf |
|
|